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Fachschaft Computational Engineering » Uniboards » Technische Anwendungsfach » Prüfungsprotokoll Test Integrierter Schaltungen » Hallo Gast [anmelden|registrieren]
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Deathstrike Deathstrike ist männlich

CE-Student
Bachelor 2003
Mikroelektronik

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Dabei seit: 15.03.2006
Beiträge: 1

[Prüfung] Test Integrierter Schaltungen Zitatantwort auf diesen Beitrag erstellen Diesen Beitrag editieren/löschen Diesen Beitrag einem Moderator melden       IP Information Zum Anfang der Seite springen

Gute Atmosphäre, es war nicht die erste Prüfung bei ihm, deswegen fiel die Entspannungsphase erstmal weg smile

F: Bei welchen Prozeßschritten werden ICs getestet?
A: Auf dem Waffer, im Baustein, in Modulen.

F: Warum noch im Baustein testen?
A: Weil man auf dem Waffer nicht "at-speed" testen kann und natürlich kann was beim Einbau schiffgehen.

F: Sind alle getestete Chips, dann Funtionstüchtig?
A: Nein, wegen Irrturmwahrscheinlichkeit

Er wollte dann die Formel, die die Anzahl der Chips angibt, die trotz erfolgreichem Test nicht funtionstüchtig sind, ageleitet bekommen. Sie lautet irgendwie: Dl = 1 - (1-p)^(1-Fc)

F: Wie viele Arten von Tests hat man gesehen?
A: Es gibt ziemlich viele im Stoff, was er hören wollte war: Parametertest(DC- und AC-Test) und Produktionstest(Funtionstest und Strukturtest)

F: Wie kann man Testmuster automatisch generieren ?
A: D-Algoritmus, ich musste es beschreiben

F: Klappt es immer?
A: nein, Voraussetzungen sind ja Steuerbarkeit und Beobachtkeit. Bei Schaltwerken ist es nicht mehr gewährleistet (wegen den FFs). Er hat nach eine Erweiterung des D-Algos für diesen Fall gefragt aber ich wusste es nicht.

Dannach gingen wir zu Testsystemen:
F: Welche Module hat ein Test system?
A: Treiber, Comparator, parametriebare Last und PMU

Dannach wollte er die Schaltungen vom Comparator und der Last gezeichnet bekommen (Das hatte ich mich, leider nicht so genau angeschaut smile ) Deswegen blieben wir eine Zeit lang da hängen. Dannach war nicht mehr viel Zeit und die letzte Frage war dann:

F: Was muss ein Testsystem für analoge Schlatungen zusätzlich (mehr als Logiktester) machen können?
A:
- Analoge Signale erzeugen & abtasten
- n-bits Datenworte erzeugen & abtasten
- Zeit und Frequenz messen

Mann soll sich auf jeden Fall das Kapitel über Pinelektronik genau anschauen und auch die Formel, die ich am Anfang erwähnt habe.

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Es ist nicht schlimm einen Fehler zu machen, sondern nicht zu wissen dass man einen Fehler macht.

Dieser Beitrag wurde schon 3 mal editiert, zum letzten mal von Deathstrike am 22.09.2008 16:25.

22.09.2008 16:11 Deathstrike ist offline Email an Deathstrike senden Homepage von Deathstrike Beiträge von Deathstrike suchen Nehmen Sie Deathstrike in Ihre Freundesliste auf Füge Deathstrike in deine Contact-Liste ein YIM Screenname: enguerrandd
 
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