| [Prüfung] Test Integrierter Schaltungen |
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Gute Atmosphäre, es war nicht die erste Prüfung bei ihm, deswegen fiel die Entspannungsphase erstmal weg
F: Bei welchen Prozeßschritten werden ICs getestet?
A: Auf dem Waffer, im Baustein, in Modulen.
F: Warum noch im Baustein testen?
A: Weil man auf dem Waffer nicht "at-speed" testen kann und natürlich kann was beim Einbau schiffgehen.
F: Sind alle getestete Chips, dann Funtionstüchtig?
A: Nein, wegen Irrturmwahrscheinlichkeit
Er wollte dann die Formel, die die Anzahl der Chips angibt, die trotz erfolgreichem Test nicht funtionstüchtig sind, ageleitet bekommen. Sie lautet irgendwie: Dl = 1 - (1-p)^(1-Fc)
F: Wie viele Arten von Tests hat man gesehen?
A: Es gibt ziemlich viele im Stoff, was er hören wollte war: Parametertest(DC- und AC-Test) und Produktionstest(Funtionstest und Strukturtest)
F: Wie kann man Testmuster automatisch generieren ?
A: D-Algoritmus, ich musste es beschreiben
F: Klappt es immer?
A: nein, Voraussetzungen sind ja Steuerbarkeit und Beobachtkeit. Bei Schaltwerken ist es nicht mehr gewährleistet (wegen den FFs). Er hat nach eine Erweiterung des D-Algos für diesen Fall gefragt aber ich wusste es nicht.
Dannach gingen wir zu Testsystemen:
F: Welche Module hat ein Test system?
A: Treiber, Comparator, parametriebare Last und PMU
Dannach wollte er die Schaltungen vom Comparator und der Last gezeichnet bekommen (Das hatte ich mich, leider nicht so genau angeschaut ) Deswegen blieben wir eine Zeit lang da hängen. Dannach war nicht mehr viel Zeit und die letzte Frage war dann:
F: Was muss ein Testsystem für analoge Schlatungen zusätzlich (mehr als Logiktester) machen können?
A:
- Analoge Signale erzeugen & abtasten
- n-bits Datenworte erzeugen & abtasten
- Zeit und Frequenz messen
Mann soll sich auf jeden Fall das Kapitel über Pinelektronik genau anschauen und auch die Formel, die ich am Anfang erwähnt habe.
__________________ Es ist nicht schlimm einen Fehler zu machen, sondern nicht zu wissen dass man einen Fehler macht.
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